Public concerné :
Chercheurs, enseignant-chercheur, étudiants en thèse, ingénieurs
Objectifs de l’école :
- Donner les bases de la détermination de structures cristallines par diffraction des rayons X sur monocristal
- Familiariser avec les méthodes de détermination et d’analyse de structure cristalline sous perturbation
Thèmes abordés :
- Mesures de diffraction de rayons X
- Réduction de données (absorption, extinction)
- Résolution et affinement de structures cristallines
- Analyse structurale : utilisation de bases de données, agitation thermique
- Diffraction de rayons X sous perturbation (excitation lumineuse, pression)
- Ateliers pratiques : utilisation de logiciels cristallographiques
Intervenants :
- Robert Blessing (Hauptman-Woodward Institute, Buffalo, USA)
- David Watkin (University of Oxford, UK)
- Hans-Beat Bürgi (Université de Bern, Suisse)
- Philipe Guionneau (Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux, France)
- Jean Claude Daran (Toulouse, France)
- Claude Lecomte (Université de Nancy, France)
- Sébastien Pillet (Université de Nancy, France)
- Massimo Nespolo (Université de Nancy, France)
- Slimane Dahaoui (Université de Nancy, France)
Hébergement :
