Diffractomètres pour monocristaux
Rigaku Oxford Diffraction
4 cercles, double source RX (Mo et Cu)
Détecteur CCD Atlas
Bruker D8 Venture
4 cercles, double source RX (Mo et Ag)
Détecteur CPAD PHOTON III 14
Equipements mesures de DRX sur poudres
Equipements environnement
Haute, basse et très basse températures
- Mesure des cristaux instables ou sensibles
- Etudes de transitions de phases dans toutes la gamme de températures
- Réduction/Suppression de la vibration atomique anharmonique et des désordres dynamiques
- Données de diffraction X adaptées à des études structurales précises et à la détermination de la densité électronique
Grace au soutien financier de la région Lorraine (appel à projets 2015), du FEDER et de l’Université de Lorraine nous avons pu installer une chambre en température TTK450 qui permet d’étudier le comportement de matériaux à froid ( jusqu’à -190°C) et à chaud ( jusqu’à +450°C) sous atmosphère contrôlée.
Le projet Cristallographie sous pression a été financé grâce au soutien financier du FEDER, de la région Grand Est et de l’Université de Lorraine.