Public concerné :
Chercheurs, enseignant-chercheurs, post-docs, étudiants en thèse, ingénieurs
Objectifs de l’école :
- Donner les bases nécessaires à la détermination de structures cristallines par diffraction des rayons X sur monocristal
- Acquérir des connaissances sur les méthodes d’affinement et d’analyse de structures cristallines
Thèmes abordés :
- Cristallographie : Concepts fondamentaux et utilisation d’éléments de symétrie
- Diffraction des rayons X : Description et mesures
- Résolution et affinement de structures cristallines
- Analyse structurale
- Construction de modèles structuraux
- Affinement multipolaire et transférabilité de paramètres décrivant la distribution électronique des atomes
- Comment exploiter la base de données cristallographiques Cambridge Structural Database
- Ateliers pratiques : utilisation de logiciels cristallographiques
Langues :
Les langues officielles de l’école sont le français et l’anglais.
Hébergement :
