Public concerné :
Chercheurs, enseignant-chercheurs, post-docs, étudiants en thèse, ingénieurs
Objectifs de l’école :
- Donner les bases nécessaires à la détermination de structures cristallines par diffraction des rayons X sur monocristal
- Acquérir des connaissances sur les méthodes d’affinement et d’analyse de structures cristallines
Thèmes abordés :
- Cristallographie : Concepts fondamentaux et utilisation d’éléments de symétrie
- Diffraction des rayons X : Description et mesures
- Résolution et affinement de structures cristallines
- Analyse structurale
- Transférabilité de paramètres décrivant la distribution électronique des atomes
- Utilisation de bases de données
- Contributions de la RMN à la détermination structurale
- Ateliers pratiques : utilisation de logiciels cristallographiques
Intervenants :
- Intervenants extérieurs
- Pr. Carmelo Giacovazzo (Institute of Crystallography-CNR, Italy)
- Pr. Richard Cooper (University of Oxford, UK)
- Dr. Juliette Pradon (Cambridge Structural DataBase, UK)
- Dr. Charlotte Martineau (Institut Lavoisier, Université de Versailles, France)
- Dr. Pierre Fertey (Synchrotron SOLEIL, France)
- Dr. Eric Hovestreydt (Bruker AXS)
- Intervenants du laboratoire CRM2
- Pr. Dominik Schaniel (Université de Lorraine, France)
- Pr. Massimo Nespolo (Université de Lorraine, France)
- Dr. Emmanuel Aubert (Université de Lorraine, France)
- Dr. Benoit Guillot (Université de Lorraine, France)
- Dr. Christian Jelsch (Université de Lorraine, France)
- Mr. Emmanuel Wenger (Université de Lorraine, France)
Hébergement :
