Public concerné :
Chercheurs, enseignant-chercheurs, post-docs, étudiants en thèse, ingénieurs
Objectifs de l’école :
- Donner les bases nécessaires à la détermination de structures cristallines par diffraction des rayons X sur monocristal
- Acquérir des connaissances sur les méthodes d’affinement et d’analyse de structures cristallines
Thèmes abordés :
- Mesure de diffraction des rayons X
- Méthodes et concepts de croissance cristalline en solution
- Résolution et affinement de structures cristallines
- Analyse structurale
- Transférabilité de paramètres décrivant la distribution électronique des atomes
- Utilisation de bases de données
- Applications à l’Ingénierie Cristalline
- Ateliers pratiques : utilisation de logiciels cristallographiques
Intervenants :
- Intervenants extérieurs
- Pr. Carmelo Giacovazzo (Institute of Crystallography-CNR, Italy)
- Pr. David Watkin (University of Oxford, UK)
- Pr. Richard Copper (University of Oxford, UK)
- Dr. Juliette Pradon (Cambridge Structural DataBase, UK)
- Dr. Stéphane Veesler (CINaM-CNRS, France)
- Dr. Pierre Fertey (Sinchrotron SOLEIL, France)
- Dr. Eric Hovestreydt (Bruker AXS)
- Dr. Marc Fourmigué (Université de Rennes, France)
- Intervenants du laboratoire CRM2
- Pr. Dominik Schaniel (Université de Lorraine, France)
- Dr. Emmanuel Aubert (Université de Lorraine, France)
- Dr. Nicolas Claiser (Université de Lorraine, France)
- Dr. Benoit Guillot (Université de Lorraine, France)
- Dr. Christian Jelsch (Université de Lorraine, France)
Hébergement :
