Public concerné :
Chercheurs, enseignant-chercheurs, post-docs, étudiants en thèse, ingénieurs
Objectifs de l’école :
- Donner les bases nécessaires à la détermination de structures cristallines par diffraction des rayons X sur monocristal
- Acquérir une connaissance sur les méthodes de détermination et d’analyse de structure cristalline sous contraintes
Thèmes abordés :
- Mesure de diffraction des rayons X
- Réduction de données
- Résolution et affinement de structures cristallines
- Analyse structurale : utilisation de bases de données, agitation thermique
- Diffraction des rayons X sous contraintes (excitation lumineuse, température)
- Ateliers pratiques : utilisation de logiciels cristallographiques
Intervenants :
- Emmanuel Aubert (Nancy-Université, France)
- Nicolas Claiser (Nancy-Université, France)
- Slimane Dahaoui (Nancy-Université, France)
- Jean Claude Daran (LCC Toulouse, France)
- Claude Didierjean (Nancy-Université, France)
- Pierre Fertey (Synchrotron SOLEIL, France)
- Fernando Lahoz (University of Zaragoza, Spain)
- Claude Lecomte (Nancy-Université, France)
- Massimo Nespolo (Nancy-Université, France)
- Dominik Schaniel (Nancy-Université, France)
- Frank Van Meurs (Bruker AXS, Netherlands)
- David Watkin (University of Oxford, UK)
- Peter Wood (Cambridge Crystallographic Data Centre, UK)
Hébergement :
