Paul Allé

Paul Allé


Ingénieur de Recherche
Directeur Adjoint de l’Unité




telephone+33 (0)3 83 68 48 66


fax+33 (0)3 83 68 43 00


courrielpaul.alle@univ-lorraine.fr



recherche_icn Domaine de recherche:


  • Instrument de mesure de diffraction X de cristaux sous champ électrique (haute tension commuté).
  • Instrument de détection précoce du Glaucome (maladie des yeux).


mission_icn Mission:


Réalisation d’instruments prototypes (électronique, micro-informatique).




publication_icn Publications:


Casaretto N., Schaniel D.,Alle P.,Wenger E.,Parois P., Fournier B., Bendeif E.-E., Palin C. and Pillet S.
In-house time-resolved photocrystallography on the millisecond timescale using a gated X-ray hybrid pixel area detector
Acta Crystallographica Section B: STRUCTURAL SCIENCE, CRYSTAL ENGINEERING AND MATERIALS B73 (2017) 696-707 DOI link

Wenger E., Dahaoui S., Alle P., Parois P., Palin C., Lecomte C., Schaniel D.
XPAD X-ray hybrid pixel detector for charge density quality diffracted intensities on laboratory equipment
Acta Crystallographica Section B Structural Science, Crystal Engineering and Materials 70 (2014) 783-791 DOI link

Fertey P., Alle P., Wenger E., Dinkespiler B., Cambon O., Haines J., Hustache S., Medjoubi K., Picca F., Dawiec A., Breugnon P., Delpierre P., Mazzoli C., Lecomte C.
Diffraction studies under in-situ electric field using a large area hybrid pixel XPAD detector
Journal of Applied Crystallography 46 (2013) 1151-1161 DOI link

DORR V., NAOUN K., ALLE P., BENOIT A.M.,, RASPILLER A.
Linear dichroism of the cornea
Applied Optics 43 (2004) 1515-1521

GUILLOT R., ALLE P., FERTEY P., HANSEN N. & EL KAIM E.
Diffraction measurements from crystals under electric fields : Instrumentation
Journal of Applied Crystallography 35 (2002) 360-363